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  • 溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱
    溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱

    溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱 是一種用于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高加速應(yīng)力測(cè)試的設(shè)備,旨在在短時(shí)間內(nèi)模擬產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的使用情況,以快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問題。 廣泛應(yīng)用于電子元器件、集成電路、印刷電路板、電子組裝件等電子產(chǎn)品的可靠性評(píng)估,特別是高可靠性要求的航空航天、汽車電子、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域。

    更新時(shí)間:2024-10-09型號(hào):瀏覽量:128
  • 高壓加速老化試驗(yàn)箱
    高壓加速老化試驗(yàn)箱

    高壓加速老化試驗(yàn)箱 是一種用于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高加速應(yīng)力測(cè)試的設(shè)備,旨在在短時(shí)間內(nèi)模擬產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的使用情況,以快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問題。 廣泛應(yīng)用于電子元器件、集成電路、印刷電路板、電子組裝件等電子產(chǎn)品的可靠性評(píng)估,特別是高可靠性要求的航空航天、汽車電子、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域。

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  • hast試驗(yàn)箱 高溫 高濕 高壓可靠性
    hast試驗(yàn)箱 高溫 高濕 高壓可靠性

    hast試驗(yàn)箱 高溫 高濕 高壓可靠性 適用標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.40 / IEC60068-2-66、JESD22-A102-D、JESD22-A110-D、JESD22-A118-A。

    更新時(shí)間:2024-10-09型號(hào):瀏覽量:130
  • 高速壽命試驗(yàn)箱
    高速壽命試驗(yàn)箱

    高速壽命試驗(yàn)箱是一種用于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高加速應(yīng)力測(cè)試的設(shè)備,旨在在短時(shí)間內(nèi)模擬產(chǎn)品在不同環(huán)境下的使用情況,以快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問題。

    更新時(shí)間:2024-10-09型號(hào):瀏覽量:112
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