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產(chǎn)品展示 / products 您的位置:網(wǎng)站首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > > 快速溫變濕熱試驗(yàn)箱 > HT-TEB-225PF電子元件溫度速變?cè)囼?yàn)箱電阻值波動(dòng)評(píng)估
電子元件溫度速變?cè)囼?yàn)箱電阻值波動(dòng)評(píng)估
簡(jiǎn)要描述:

電子元件溫度速變?cè)囼?yàn)箱電阻值波動(dòng)評(píng)估電子元件在溫度快速變化下的性能而設(shè)計(jì)。它能精確控制溫度變化速率和范圍,模擬各種不同溫度工況。在電阻值波動(dòng)評(píng)估方面表現(xiàn)出色,通過(guò)對(duì)電子元件進(jìn)行快速溫度循環(huán)測(cè)試,可準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)其電阻值的變化情況。該試驗(yàn)箱操作簡(jiǎn)便,數(shù)據(jù)精準(zhǔn)可靠,為電子元件的質(zhì)量檢測(cè)和可靠性驗(yàn)證提供有力支持,確保電子元件在不同溫度條件下仍能保持穩(wěn)定的性能,是電子行業(yè)研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量控制的重要設(shè)備。

  • 產(chǎn)品型號(hào):HT-TEB-225PF
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-09-03
  • 訪  問(wèn)  量:129
詳情介紹
品牌廣皓天價(jià)格區(qū)間5萬(wàn)-10萬(wàn)
產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域石油,能源,電子,電氣
內(nèi)容積225 升內(nèi)箱尺寸W×D×H = 500×600×750mm
外箱尺寸W×D×H = 850×1500×2030mm溫度范圍-20℃~+150℃
溫度波動(dòng)度±0.3℃(-20℃~+100℃);±0.5℃(+100.1~+150℃)溫度偏差±1.5℃(+100.1~+150℃)
升溫時(shí)間 (平均 /min)非線(xiàn)性升溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)降溫時(shí)間 (平均 /min)非線(xiàn)性降溫速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)
使用環(huán)境溫度 +5℃~+35℃;濕度≤90% rh內(nèi)箱不銹鋼板 SUS304
電源AC380 (1±10%) V (50±0.5) Hz 三相四線(xiàn) + 保護(hù)地線(xiàn)

電子元件溫度速變?cè)囼?yàn)箱電阻值波動(dòng)評(píng)估


一、用途

產(chǎn)品研發(fā)

對(duì)于新開(kāi)發(fā)的電子元件,通過(guò)溫度速變?cè)囼?yàn)箱可以評(píng)估其在不同溫度變化條件下的電阻值穩(wěn)定性。幫助研發(fā)人員了解元件的性能特點(diǎn),優(yōu)化設(shè)計(jì)和制造工藝,提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。

可以模擬各種實(shí)際使用環(huán)境中的溫度變化情況,提前發(fā)現(xiàn)潛在問(wèn)題,為產(chǎn)品的改進(jìn)提供依據(jù)。

質(zhì)量控制

在電子元件的生產(chǎn)過(guò)程中,對(duì)原材料和成品進(jìn)行溫度速變下的電阻值波動(dòng)測(cè)試,確保產(chǎn)品符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。及時(shí)發(fā)現(xiàn)不合格產(chǎn)品,避免不良品流入市場(chǎng),提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量水平。

對(duì)不同批次的元件進(jìn)行對(duì)比測(cè)試,保證產(chǎn)品質(zhì)量的一致性和穩(wěn)定性。

可靠性驗(yàn)證

通過(guò)反復(fù)的溫度快速變化測(cè)試,驗(yàn)證電子元件在不同溫度條件下的可靠性和耐久性。為產(chǎn)品的使用壽命和可靠性提供數(shù)據(jù)支持,增強(qiáng)客戶(hù)對(duì)產(chǎn)品的信心。



電子元件溫度速變?cè)囼?yàn)箱電阻值波動(dòng)評(píng)估


電子元件溫度速變?cè)囼?yàn)箱電阻值波動(dòng)評(píng)估


二、設(shè)備在產(chǎn)品測(cè)試中的重要性


模擬實(shí)際環(huán)境

電子元件在實(shí)際使用中往往會(huì)經(jīng)歷不同的溫度變化,溫度速變?cè)囼?yàn)箱能夠真實(shí)地模擬這些環(huán)境條件,使測(cè)試結(jié)果更具實(shí)際意義。例如,電子產(chǎn)品在不同氣候地區(qū)使用或在工作過(guò)程中發(fā)熱和散熱,都會(huì)導(dǎo)致元件周?chē)臏囟茸兓?/span>

加速老化測(cè)試

通過(guò)快速的溫度變化,可以在較短的時(shí)間內(nèi)模擬電子元件在長(zhǎng)期使用過(guò)程中的老化過(guò)程。提前發(fā)現(xiàn)元件的潛在問(wèn)題,縮短產(chǎn)品的研發(fā)周期和質(zhì)量檢測(cè)時(shí)間。

精確控制測(cè)試條件

試驗(yàn)箱可以精確控制溫度變化速率、溫度范圍、停留時(shí)間等參數(shù),確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。這對(duì)于比較不同元件的性能以及評(píng)估產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定性至關(guān)重要。

提高產(chǎn)品可靠性

通過(guò)對(duì)電子元件進(jìn)行電阻值波動(dòng)評(píng)估,可以篩選出具有良好性能的元件,提高電子產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。減少因元件故障導(dǎo)致的產(chǎn)品維修和更換成本,提升產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。

優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)

根據(jù)試驗(yàn)結(jié)果,產(chǎn)品設(shè)計(jì)師可以了解電子元件在不同溫度條件下的性能變化規(guī)律,從而優(yōu)化產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和散熱方案。提高產(chǎn)品的性能和可靠性,延長(zhǎng)產(chǎn)品的使用壽命。






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