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快速溫變箱半導(dǎo)體低溫試驗(yàn) 功能- 40°C
簡要描述:

快速溫變箱半導(dǎo)體低溫試驗(yàn) 功能- 40°C。在進(jìn)行 - 40℃低溫試驗(yàn)時(shí),它能快速且精準(zhǔn)地將箱內(nèi)溫度降至設(shè)定的 - 40℃。箱內(nèi)采用的溫度控制系統(tǒng),確保溫度均勻度高、波動(dòng)小,能準(zhǔn)確模擬半導(dǎo)體產(chǎn)品在極寒環(huán)境下的工作狀況。其具備高效的制冷系統(tǒng),可快速降溫,升降溫速率可達(dá)每分鐘數(shù)度甚至更高,滿足不同的測(cè)試需求。并且,設(shè)備還擁有良好的保溫性能,防止熱量散失,保證試驗(yàn)的穩(wěn)定性和可靠性。

  • 產(chǎn)品型號(hào):TEE-225PF
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-10-18
  • 訪  問  量:99
詳情介紹
品牌廣皓天價(jià)格區(qū)間10萬-20萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域石油,能源,電子,航天,電氣

快速溫變箱半導(dǎo)體低溫試驗(yàn) 功能- 40°C


   在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)蓬勃發(fā)展的今天,產(chǎn)品的可靠性和環(huán)境適應(yīng)性成為了至關(guān)重要的考量因素。半導(dǎo)體器件在不同的工作環(huán)境下都需要保持穩(wěn)定的性能,而低溫環(huán)境對(duì)其是一種嚴(yán)峻的考驗(yàn)??焖贉刈兿渌邆涞?/span> - 40°C 低溫試驗(yàn)功能在此背景下凸顯出重要意義。它如同一個(gè)微觀環(huán)境的測(cè)試設(shè)備,能夠精準(zhǔn)地模擬出極度寒冷的條件,為半導(dǎo)體產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的性能評(píng)估、質(zhì)量檢測(cè)以及可靠性分析提供了有力保障,是半導(dǎo)體研發(fā)與生產(chǎn)過程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)


快速溫變箱半導(dǎo)體低溫試驗(yàn) 功能- 40°C


快速溫變箱半導(dǎo)體低溫試驗(yàn) 功能- 40°C


用途:

半導(dǎo)體產(chǎn)品研發(fā):在半導(dǎo)體產(chǎn)品的研發(fā)過程中,可用于測(cè)試半導(dǎo)體材料、芯片、器件等在不同溫度條件下的性能和可靠性,幫助研發(fā)人員發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在問題,優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)。

質(zhì)量檢測(cè)與篩選:對(duì)半導(dǎo)體產(chǎn)品進(jìn)行批量的高溫試驗(yàn),篩選出存在質(zhì)量問題或性能不穩(wěn)定的產(chǎn)品,提高產(chǎn)品的出廠質(zhì)量。

環(huán)境適應(yīng)性評(píng)估:模擬半導(dǎo)體產(chǎn)品在實(shí)際使用過程中可能遇到的高溫環(huán)境,評(píng)估其在這種環(huán)境下的工作性能和穩(wěn)定性,為產(chǎn)品的應(yīng)用提供參考。

可靠性驗(yàn)證:通過對(duì)半導(dǎo)體產(chǎn)品進(jìn)行長時(shí)間的高溫試驗(yàn),驗(yàn)證其在高溫環(huán)境下的可靠性和壽命,為產(chǎn)品的質(zhì)量保證提供依據(jù)。



工作原理:

半導(dǎo)體快速溫變箱的工作原理基于逆卡諾循環(huán)。首先,制冷劑經(jīng)壓縮機(jī)絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高;然后,制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進(jìn)行熱交換,將熱量傳給四周介質(zhì);接著,制冷劑經(jīng)閥絕熱膨脹做功,此時(shí)制冷劑溫度降低;最后,制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱,使被冷卻物體溫度降低。通過這種循環(huán),試驗(yàn)箱能夠快速地實(shí)現(xiàn)升溫和降溫,達(dá)到設(shè)定的溫度變化速率和溫度值。


執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):


國際標(biāo)準(zhǔn):

IEC 60068-2-14《環(huán)境試驗(yàn) 第 2-14 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N:溫度變化》:規(guī)定了溫度變化試驗(yàn)的試驗(yàn)方法、試驗(yàn)設(shè)備、試驗(yàn)程序等,半導(dǎo)體快速溫變箱的高溫試驗(yàn)可參考此標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。

MIL-STD-810G《環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》:美國J用標(biāo)準(zhǔn),對(duì)電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)方法和要求進(jìn)行了詳細(xì)的規(guī)定,部分半導(dǎo)體產(chǎn)品的高溫試驗(yàn)可能需要滿足此標(biāo)準(zhǔn)。

國家標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 2423.22《環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N:溫度變化》:等效采用 IEC 60068-2-14 標(biāo)準(zhǔn),是國內(nèi)電子電工產(chǎn)品溫度變化試驗(yàn)的主要依據(jù)。

GB/T 5170.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》:規(guī)定了溫度試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)方法和技術(shù)要求,用于確保半導(dǎo)體快速溫變箱的溫度控制精度和性能符合標(biāo)準(zhǔn)。





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